Röntgenfluoreszenzanalyse

Halbleiter Wafer Halbleiter Wafer

Typische Schichten im Bereich dieser Anwendung sind:

  • Zinn, Zinn Legierungen
  • Kupfer
  • Nickel
  • Silber
  • Gold

Diese Messaufgaben können von fast allen Geräten der Bowman Serien erledigt werden.

Die Wahl des Gerätes orientiert sich daher am besten an:

  • Messfleckgröße
  • Teiletopografie
  • Teilegröße

Je nach Messaufgabe kommen folgende Geräte in Betracht:

Kontakt

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Oberer Hermuth 17
97508 Grettstadt

 

Telefon: 09729 9074 420
Telefax: 09729 9074 423

E-Mail: info(@)depratechnik.de

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kontaktform DEPraDipl.-Ing Andreas Prager | Dipl.-Ing. Dietmar Denker

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