Bowman

Hochleistungsröntgenfluoreszenzspektrometer Bowman zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse, für gleichbleibende Fertigungs- und hohe Produktqualität.
Bowman mit festem TischBowman mit festem Tisch
Bowman mit festem Tisch
Bowman_standard_fixed_base.jpg
Bowman_extended_programmable_xy_base.jpg
Bowman_maximum_travel_extended_xy_base.jpg
Bowman_motorized-programmable_xy_base.jpg

Schichtdickenanalyse basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA) bietet leicht zu bedienende, schnelle und zerstörungsfreie Analyse fast ohne Probenvorbereitung.
Mit hoch auflösendem und leistungsstarken SDD ist das Bowman das ideale Instrument um dünnste Beschichtungen und Elementzusammensetzung im Spurenbereich, feste und flüssige Stoffe über einen weiten Elementbereich von AI bis zu U in der Periodentabelle zu analysieren.