Bowman

Hochleistungsröntgenfluoreszenzspektrometer Bowman zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse, für gleichbleibende Fertigungs- und hohe Produktqualität.
Bowman mit festem TischBowman mit festem Tisch
Bowman mit festem Tisch
Bowman mit programmierbarem XY Tisch
Bowman mit großem programmierbarem Tisch

Schichtdickenanalyse basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA) bietet leicht zu bedienende, schnelle und zerstörungsfreie Analyse fast ohne Probenvorbereitung.
Mit hoch auflösendem und leistungsstarken SDD ist das Bowman das ideale Instrument um dünnste Beschichtungen und Elementzusammensetzung im Spurenbereich, feste und flüssige Stoffe über einen weiten Elementbereich von AI bis zu U in der Periodentabelle zu analysieren.

 

Hauptmerkmale

  • Leistungsstarker SiPIN oder hochauflösender Silizium-Drift-Detektor (SDD) für die Analyse dünnster Beschichtungen bis in den Nanometerbereich und Spurenanalyse
  • Kapillaroptik optional
  • 50 Watt Röntgenröhre aus deutscher Fertigung
  • Laserfokus
  • fester oder multivariabler Fokus
  • Weiter Elementbereich von AI bis U
  • Große, geschlitzte Probenkammer